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本特利 330780-50-00
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线激光扫描在工业视觉检测中应用广泛，比方说连接器Pin针检测、平整度检测、直线度检测等，但是线激光扫描的3D相机也存在它自身的一些问题，以下就这些主要问题及相应的解决方法做简要描述：
1. 在传感器系统方面:
(1) 入射光束的焦深限制: 一般的高斯光束聚焦为入射光时, 会出现光斑尺寸随测量范围变大而离焦变大的情况, 使系统很难满足高分辨率和大测量范围的要求（不过目前如德国SICK等已经有成熟的沙姆测量及标定方法，可以很好的解决离焦问题）。当采用CCD 为检测器时, 相应的改进方法是采用重心法取CCD 输出矩形脉冲的中心位置; 而采用PSD为检测器时可以较好的避免光斑形状的影响, 但仍会影响系统的分辨率。在部分文献中提出采用无衍射光束作为光源解决这个问题。
(2) 光学系统的像差使得物体上任一点发出的光束通过光学系统后, 不能汇聚于一点, 而是形成一个弥散斑或者使像不能严格表现出原物的形状。相应的改进方法是在接收透镜的设计中考虑像差的因素。
(3) 非线性的输入和输出之间的关系。改进的方法有, 通过较优的标定方法制作查找表, 之后在测量过程中查表得到具体的物体位移值。
SICK REFLEXIONSLICHT?SCHALTER, WL23-2P2430
MULTICOMAT ZEITRELAIS, CX 36/UFK
ALLEN BRADLEY POWER SUPPLY MODULE, 1746-P1
ConTROL TECHNIQUES UNIDRIVE 0.75 KW, UNI1401
ConTROL TECHNIQUES UNIDRIVE 1.5 KW, UNI1403
SICK LASER SCANNER, PLS101-316
IFM STR?MUNGSW?CHTE?R SI5000, SID10ABBFPKG-US
LEUZE LICHTTASTER, 50107499, HRTR 53/66-S8
SICK MINIATUR-LICHTS?CHRANKE, WL100-2P3439
ALLEN BRADLEY ANALOG INPUT MODULE, 1746-NI8
SICK PATTERN-SENSOR, ML20M-P1211
SICK ENCODER CABLE 10M, DOL-2312-G10MMA?1
ALLEN BRADLEY SLC 500 OUTPUT MODULE, 1746-OB16
SICK KLEIN-LICHTSCHR?ANKE, WTB9-3P2261
WENGLOR REFLEXIONS-LICH?TSCHRANKE, XT200PXVT80
KUHSE, 4-FACH AC-DC-WANDLER 100V, 9712.1-1, 3197120101
BOSCH REXROTH PERMANENTMAGNET SERVOMOTOR, MSK061C-0600
SIEMENS SSI MODUL, IP252, 9AC9100-2AA04, G26043-A3347-P
SITOP POWER 10 GEREGELTE STROMVERSORGUNG?, 6EP1434-2BA00
SICK REFLEXIONS-LICH?TSCHRANKE, WL250-P430
SICK REFLEXIONS-LICH?TSCHRANKE, WL250-2P2431
BAUMER REFLEXIONS-LICH?TSCHRANKE, FPDM 16P5101/S14